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一、介电常数仪概述:
LJD-A高频 介电常数介质损耗仪 系统由S916测试装置(夹具)、LJD-A/B/C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入LJD-A/B或LJD-C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。介电常数介质损耗仪 器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用LJD-A/B或LJD-C数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。
二、介电常数仪主机及夹具参数:
三、常测材料及符合标准:
固体绝缘材料,绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等。
ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法;
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;
GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法;
四、标准配置:
010-86391504